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菲希爾熒光測厚儀XULM240

XULM適合測量小的結(jié)構(gòu)。它配備了微聚焦管，測量點可達約100μｍ，同時比例接收器仍然可以保持相對高的計數(shù)率。即使很短的測量時間也可以達到很好的重復精度。此外，XULM配備了可自動切換的準直器和多種濾片可以靈活地為不同的測量應用創(chuàng)造*佳的激勵條件。

德國fischer膜厚儀 X射線熒光測厚儀應用實例：

XULM特別適合測量細小的部件如連接器，觸點或線，也可以測量印刷線路板上的Au，Ni和Cu鍍層厚度。即使80nm的很薄的金鍍層也可以用測量點為?0.25mm的準直器測量，20秒的重復精度可達2.5nm。